商品說明
桌上型薄膜、粉末X光繞射儀:
敘述: AXRD桌上型機易於使用,可提供準確可靠的測量結果,與全尺寸實驗室裝置的速度相當。AXRD
Benchtop配備了我們強大的混合光子計數探測器,具有極快的數據採集能力。在3分鐘內收集低分辨率掃描。在15到30分鐘內收集高分辨率掃描。令人難以置信的低角度性能,具有低至1º的優異峰值。AXRD
Benchtop具有600瓦的X射線功率,可實現的FWHM峰值分辨率<0.05º2θ,在整個角度範圍內的角度精度<±0.02ºΔ2θ,為粉末衍射提供了低成本的替代方案。即使是最苛刻的X射線衍射材料研究,也能保持必要的性能。
- (豁免管制類)/ X光能量600 W
- 不需外部冷卻水系統
- 可變式或固定式光學細縫
- 2Θ掃描範圍:- 4°~154°
- 最小步進寬度:0.0001°/step
- 六個樣品自動交換機(Option)
- 入射平行光多層膜Mirror:0.02865°(Option)
- 隔離空氣、濕氣樣品座(Option)
- 陣列式半導體偵測器200倍強度(Option)
- 偵搜角度:25.0°/Step
- Si半導體計數器 (XRD & XRF) (Option)
桌上型薄膜粉末X光繞射儀 4.2M